2021年3月30日-4月2日，第22屆ITES在深圳國際會展中心（寶安新館）舉辦。崧智智能將聯手遨博智能展出復雜表面缺陷檢測方案，感興趣的您可以在下面展臺找到我們的產品：

此次崧智展出的方案是用2D線掃相機解決曲面的缺陷檢測問題。與傳統的方案相比，該方案的優點如下：

1、檢測的成像效果連續、完整、精度高，曲面的表面被完整地一次性掃描檢測。表面缺陷檢測精度可達0.02mm，且檢測算法成熟穩定。

2、僅一臺2D線掃相機完成檢測作業成為可能，大大降低檢測系統的構成成本。檢測距離、檢測軌跡由崧智數字孿生系統RioD?快速規劃完成。

3、檢測速度快。基于現場數據和工藝分析，運用機器學習算法，可以10倍提速作業周期。

4、部署及調試時間可短至一天。

ITES深圳工業展，我們不見不散。